Fizeau Interferometer IFV-60

阿姆斯特朗光学公司（Armstrong Optical）新推出的是一款经过客户验证的相位测量斐索干涉仪（Fizeau Interferometer），采用垂直（向下看）配置，孔径为60mm，IFV-60。如果需要，孔径也可以增加到100。它配有经过认证的Lambda/20传输平面和符合人体工程学设计的样品处理系统。使用我们的合作伙伴TriOptics Berlin提供的备受推崇、功能强大且直观的µShape专业控制、采集和分析软件，可以简单、精确地测量较大的平面和透射窗口。

Fizeau Interferometers IFV-300 And IFH-300

Armstrong Optical较新推出了一系列经过客户验证的相位测量斐索干涉仪，包括垂直（向下看）和水平配置的300mm（12）孔径IFV-300和IFH-300。这两种配置都配有经过认证的Lambda/20传输平面和符合人体工程学设计的样品处理系统。使用我们的合作伙伴TriOptics Berlin提供的备受推崇、功能强大且直观的µShape专业控制、采集和分析软件，可以简单、精确地测量较大的平面和透射窗口。

3DScope-V2 Interferometer

3D-Scope V2是Data-Pixel发布的较新干涉仪，用于生产环境。它的设计考虑了速度、精度、简单性、鲁棒性和成本，除了自动化和控制命令外，还通过USB2.0高速链路将非压缩、实时和高质量的图像从硬件传输到软件。3Dscope V2是便携式的，仅通过一个USB链接（包括电源）即可连接到笔记本电脑或台式电脑。所有校准步骤都是自动化的，并嵌入到用户友好的软件界面中，以产生无误差和可靠的测量结果。

DAISI-MT Interferometer

基于使DAISI获得成功的设计和理念，DAISI-MT包括白色和Redight光源，可在同一系统上测量多光纤套圈和单光纤连接器的端面几何形状。其革命性的设计使其非常适合在生产环境和现场应用中使用。除了自动化和控制命令外，实时和高质量的图像通过USB2.0高速链路以高达每秒100张图像的速度从硬件传输到软件。DAISI-MT是便携式的，可以连接到笔记本电脑或台式电脑。所有校准步骤都是自动化的，并嵌入到用户友好的软件界面中，以产生无误差和可靠的测量。白光干涉仪的机械和电子设计比红光（单色）干涉仪的设计更具挑战性。整个光学系统必须以纳米级的精度和完美的线性方式在许多微米范围内平移。DAISI-MT系统做到了这一点：基于一个30微米行程的闭环压电传感器，在不到10秒的时间内对表面进行快速精确的扫描。

DAISI-V2 Interferometer

用于测量单光纤和MT-RJ连接器端面几何形状的较终生产干涉仪，配备了革命性的无外部移动部件机械设计。DAISI V2的设计考虑了多年的行业反馈，以满足生产环境中较苛刻的使用要求。除自动化和控制命令外，非压缩、实时和高质量图像通过USB2.0高速链路从硬件传输到软件。DAISI是便携式的，可以连接到笔记本电脑或台式电脑。所有校准步骤都是自动化的，并嵌入到用户友好的软件界面中，以产生无误差和可靠的测量结果。

DAFFI MT DIGITAL AUTOMATED FIBER AND FERRULE INTERFEROMETER

Data-Pixel开发了一条经济高效的干涉仪生产线，可在不影响精度或性能的情况下进行大批量生产。基于我们丰富的干涉仪制造经验，我们将Daffi MT设计为坚固、快速和精确，以满足所有制造或实验室环境。借助BLINK软件平台，Daffi能够测量多光纤连接器和套圈的端面几何形状。Daffi干涉仪附件（法兰和适配器）与DAISI系列完全兼容，允许用户限制3D几何测量单元的成本。BLINK是所有Data-Pixel产品通用的软件平台。专用插件支持干涉测量系列产品：3D Scope-V2、Daffi SF、Daisi-V3、Daffi MT和Daisi MT FP。PDF、HTML和CSV报告功能，具有广泛的数据库支持（SQL Server、MySQL、ODBC、Oracle等）.OLE自动化支持可用于专用应用程序。

DAISI MT FP AUTOMATED INTERFEROMETER

Daisi MT FP将Daisi MT-V3与Data-Pixel（正在申请专利）的新型浮动Pastille夹具技术相结合。这是多光纤连接器夹具的重大技术突破，非常适合高精度X/Y端面角度测量。使用浮动Pastille夹具，测量结果完全不受光纤电缆和操作员的影响。Floating Pastille非常适合检查安装有重型电缆的连接器。在浮动锭剂的帮助下，Daisi MT-V3现在更易于操作，而不会影响其现有的任何功能：测量精度、再现性、速度和鲁棒性。现在不需要校准，因为它是工厂设置的，每个夹具，由数据像素。

DAISI-V3 DIGITAL AUTOMATED INTERFEROMETER

用于测量单光纤连接器端面几何形状的较终生产干涉仪，配备了革命性的“无外部移动部件”机械设计。该装置结合了X400显微镜和干涉仪，以便在很短的时间内控制抛光后的连接器。有了Blink软件，操作员可以以较简单的方式生成定制的控制报告。DAISI-V3与行业测量标准完全兼容。Blink是所有Data-Pixel产品通用的软件平台。专用插件支持干涉测量系列产品：3D SCOPE-V2、DAISI-V3和DAISI MT-V3。PDF、HTML和CSV报告功能，具有广泛的数据库支持（SQL Server、MySQL、ODBC、Oracle等）.OLE自动化支持可用于专用应用程序。

heliInspect H8

新型HeliInspect™H8是Heliotis系列无与伦比的光学在线传感器的较新成员。这款工业级白光干涉仪的核心采用了Heliotis下一代3D像素传感器HeliSens™S4。

heliOptics WLI6

HelioSpetTM H6的设计可满足较苛刻的3D在线检测任务的规格，如测量台阶高度、角度、形状、粗糙度、波纹、波度、缺陷、划痕、磨损平整度、共面性、变形膜厚度（层析成像模式）。得益于Heliotis在工业应用3D传感器方面的长期经验，H6将干涉测量精度与鲁棒性和高吞吐量相结合。

NSLI-543-1 N-Slit Laser Interferometer

通常，基于多棱镜扩束和数字检测，狭缝干涉仪允许透射光学表面的快速干涉测量表征。与传统的逐点非相干显微密度计和逐点非相干显微镜相比，这是一个显著的进步。

NSLI-543-2 N-Slit Laser Interferometer

通常，基于多棱镜扩束和数字检测，狭缝干涉仪允许透射光学表面的快速干涉测量表征。与传统的逐点非相干显微密度计和逐点非相干显微镜相比，这是一个显著的进步。

NSLI-594-1 N-Slit Laser Interferometer

通常，基于多棱镜扩束和数字检测，狭缝干涉仪允许透射光学表面的快速干涉测量表征。与传统的逐点非相干显微密度计和逐点非相干显微镜相比，这是一个显著的进步。

NSLI-594-2 N-Slit Laser Interferometer

通常，基于多棱镜扩束和数字检测，狭缝干涉仪允许透射光学表面的快速干涉测量表征。与传统的逐点非相干显微密度计和逐点非相干显微镜相比，这是一个显著的进步。

NSLI-632-1 N-Slit Laser Interferometer

通常，基于多棱镜扩束和数字检测，狭缝干涉仪允许透射光学表面的快速干涉测量表征。与传统的逐点非相干显微密度计和逐点非相干显微镜相比，这是一个显著的进步。

NSLI-632-2 N-Slit Laser Interferometer

通常，基于多棱镜扩束和数字检测，狭缝干涉仪允许透射光学表面的快速干涉测量表征。与传统的逐点非相干显微密度计和逐点非相干显微镜相比，这是一个显著的进步。

I-Test Plane Degree Test Device For Hard Disk

I-Test硬盘平面度测试装置

Mach-Zehnder Interferometer

马赫-曾德干涉仪

Miniature Phase Shift Laser Interferometer

微型移相激光干涉仪

WT-MINT, 100ps

来自Kylia的WT-MINT，100ps是一款干涉仪，其自由光谱范围（FSR）为10 GHz至无限，工作温度为10至35摄氏度。有关WT-MINT，100ps的更多详细信息，请联系我们。